繼電保護(hù)裝置試驗(yàn)儀是在參照電力部頒發(fā)的DL/T624-1997《微機(jī)型繼電保護(hù)試驗(yàn)裝置技術(shù)條件》的基礎(chǔ)上，廣泛聽(tīng)取用戶意見(jiàn)，總結(jié)目前國(guó)內(nèi)同類產(chǎn)品優(yōu)缺點(diǎn)，充分使用現(xiàn)代先進(jìn)的微電子技術(shù)和器件實(shí)現(xiàn)的一種新型小型化微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀。本微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀采用單機(jī)獨(dú)立運(yùn)行，亦可聯(lián)接筆記本電腦運(yùn)行的先進(jìn)結(jié)構(gòu)。儀器主機(jī)采用DSP+FPGA結(jié)構(gòu)，真16位DAC輸出、內(nèi)置新型模塊式高保真線性大功率功放，自帶8.4寸分辨率為800×600的TFT真彩顯示屏以及工業(yè)鍵盤(pán)鼠標(biāo)。WindowsXP操作系統(tǒng)，功能強(qiáng)大。體積小、精度高。既具有大型測(cè)試儀的性能、先進(jìn)的功能，又具有小型測(cè)試儀小巧靈活、操作簡(jiǎn)便、可靠性高等優(yōu)點(diǎn)，性能價(jià)格比高。是繼保工作者得心應(yīng)手的好工具。

繼電保護(hù)測(cè)試儀差動(dòng)保護(hù)測(cè)試單元用于自動(dòng)測(cè)試發(fā)電機(jī)和變壓器差動(dòng)保護(hù)的比例制動(dòng)特性曲線、諧波制動(dòng)特性曲線、動(dòng)作時(shí)間特性等。

微機(jī)差動(dòng)保護(hù)是相對(duì)比較復(fù)雜的一個(gè)保護(hù)，所以調(diào)試起來(lái)也難免會(huì)遇到些問(wèn)題，一般對(duì)試驗(yàn)結(jié)果影響較大的有以下幾點(diǎn)：

1、平衡系數(shù)的設(shè)置，平衡系數(shù)設(shè)置不對(duì)可能會(huì)使測(cè)試出來(lái)的曲線與整定的曲線偏差較大。

2、制動(dòng)公式的選擇，制動(dòng)公式選擇不對(duì)會(huì)使測(cè)試出來(lái)的曲線以及計(jì)算出來(lái)的制動(dòng)系數(shù)都會(huì)和保護(hù)的整定值有很大的偏差，甚至不對(duì)。

3、當(dāng)變壓器為Y/Y(YO) 接線時(shí)，試驗(yàn)的接線很簡(jiǎn)單:測(cè)試A 相時(shí)，測(cè)試儀 IA 接保護(hù)高壓側(cè)的 A 相，測(cè)試儀的 IB 接保護(hù)低壓側(cè)的 a 相，保護(hù)高、低壓側(cè)的中性線短接后，接測(cè)試儀的 IN，不存在補(bǔ)償電流問(wèn)題。測(cè)試變壓器 B、C 相時(shí)接線與上述類似。

4、當(dāng)變壓器接線類型為 Y / A-11 時(shí)，常見(jiàn)的接線為:測(cè)試變壓器 A 相時(shí),測(cè)試儀 IA 接保護(hù)高壓側(cè)的 A相，測(cè)試儀的 B 接保護(hù)低壓側(cè)的 a 相，試儀的IC 接低壓側(cè)的 c 相，保護(hù)高、低壓側(cè)的中性線短接后，接測(cè)試儀的 IN，其中 IC作為補(bǔ)償電流。接線時(shí)測(cè)試儀的 IA 固定接差動(dòng)保護(hù)裝置變高側(cè)電流輸入端，IB固定接保護(hù)變低(中)側(cè)電流輸入端，而 IC 作為補(bǔ)償電流用，在選高壓側(cè)相位調(diào)整時(shí)作為高壓側(cè)補(bǔ)償電流，選低(中) 壓側(cè)相位調(diào)整時(shí)作為低(中)壓側(cè)補(bǔ)償電流。測(cè)試變壓器的 B 相和 C 相時(shí)，接線方式與 A 相類似。

考慮到加在低壓側(cè)的兩個(gè)電流具有“大小相等、方向相反"的特性，試驗(yàn)時(shí)可只給保護(hù)輸入兩路電流。正確的接線為: 測(cè)試變壓器 A 相時(shí)，測(cè)試儀 IA 接保護(hù)高壓側(cè)的A相，測(cè)試儀的 IB 接保護(hù)低壓側(cè)的a相，保護(hù)低壓側(cè) ac 相負(fù)極性端短接，低壓側(cè)的c 相與保護(hù)高壓側(cè)的中性線短接后，接測(cè)試儀的IN。

加在保護(hù)低壓側(cè)對(duì)應(yīng)相的電流應(yīng)與加在高壓側(cè)的電流反相,加在低壓側(cè)的補(bǔ)償電流要與加在低壓側(cè)對(duì)應(yīng)相的電流反向。所以在測(cè)試變壓器 A 相時(shí)，當(dāng)測(cè)試儀IA 的電流設(shè)為0°，則測(cè)試儀IB的電流應(yīng)為 180°，測(cè)試儀IC的電流應(yīng)為0°。